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一篇論文被 ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis (ISSTA 2025) 錄用
來源: 向毅/
華南理工大學(xué)
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2025-03-30

黃翰教授和我共同指導(dǎo)的博士生王海寧的工作“A Low-Cost Feature Interaction Fault Localization Approach for
 Software Product Lines”被ISSTA 2025錄用。針對(duì)操作系統(tǒng)、數(shù)據(jù)庫和編譯器等軟件產(chǎn)品線所面臨的缺陷定位效率低的難題,我們采用反事實(shí)推理技術(shù)構(gòu)造有效的搜索子空間,并以避免重復(fù)搜索為目標(biāo),提出了一種低代價(jià)的缺陷定位算法。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該算法在保證定位準(zhǔn)確性的同時(shí),較現(xiàn)有先進(jìn)方法的定位效率提高了17倍,最高可達(dá)22倍。該工作的合作者包括華南理工大學(xué)的楊曉偉教授、普華基礎(chǔ)軟件有限公司的曹捷博士。未來,我們將與企業(yè)方一道,繼續(xù)圍繞基礎(chǔ)軟件的缺陷定位和修復(fù)展開研究,預(yù)計(jì)將產(chǎn)出更多有實(shí)用價(jià)值的成果。

 

Haining Wang (South China University of Technology) 

Yi Xiang (South China University of Technology) 

Han Huang (South China University of Technology)

Jie Cao (Puhua Basic Software Co.)

Kaichen Chen (South China University of Technology)

Xiaowei Yang (South China University of Technology)


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